[問題]想請問一些關於原子力顯微鏡探針的問題
小弟最近實驗上發生一些問題
是關於AFM探針接觸上的問題
我是用接觸模式的AFM去做實驗
但是卻是用TAPPING的探針 (彈性係數 42 N/m )
因為實驗室沒有CONTACT的探針 所以不是很清楚CONTACT探針的彈性係數是多少
我想要請問的是 探針的彈性係數(FORCE CONSTANT)
有AFM達人知道 CONTACT MODE AFM 到底是使用彈性係數大的探針
還是使用彈性係數小的探針 能讓探針更佳的穩定在樣品表面上
也就是能讓探針與表面可以持續保持良好的接觸
希望有達人可以回答 謝謝!!
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